去耦合等離子體源

Ⅰ ICP-MS的原理是什麼

通過以電感耦合等離子體為離子源，然後以質譜計的無幾多元素分析技術。
被分析的樣品通常是以水溶液的氣溶膠形式引入氬氣流中，然後進去由射頻能力激發的處於大氣壓下的氬離子體中心區，等離子體的高溫會使樣品去溶劑化，汽化解離和電離。

PS,
ICP中心通道溫度高達大概在7000K(如果沒記錯)，引入的樣品完全解離，具有搞的單電荷分析物離子產率，低的雙電荷離子，氧化物以及其他分子復合離子產率，是比較理想的電子源。

Ⅱ 電感耦合等離子體質譜分析是常見的干擾和消除手段有哪些

關鍵詞：電感耦合等離子體發射光譜法；等離子體發射光光譜儀；應用及領域；化學分析；線性范圍；
1 概述
電感耦合等離子體原子發射光譜法(ICP-AES)是以等離子體原子發射光譜儀為手段的分析方法，由於其具有檢出限低、准確度高、線性范圍寬且多種元素同時測定等優點，因此，與其它分析技術如原子吸收光譜、X-射線熒光光譜等方法相比，顯示了較強的競爭力。在國外，ICP-AES法已迅速發展為一種極為普遍、適用范圍廣的常規分析方法，並已廣泛應用於各行業，進行多種樣品、70多種元素的測定，目前也已在我國高端分析測試領域廣泛應用
2 電感耦合等離子體原子發射光譜法簡介
2.1 電感耦合等離子體原子發射光譜法的工作原理【1】
感耦等離子體原子發射光譜分析是以射頻發生器提供的高頻能量加到感應耦合線圈上，並將等離子炬管置於該線圈中心，因而在炬管中產生高頻電磁場，用微電火花引燃，使通入炬管中的氬氣電離，產生電子和離子而導電，導電的氣體受高頻電磁場作用，形成與耦合線圈同心的渦流區，強大的電流產生的高熱，從而形成火炬形狀的並可以自持的等離子體，由於高頻電流的趨膚效應及內管載氣的作用，使等離子體呈環狀結構。
樣品由載氣(氬)帶入霧化系統進行霧化後，以氣溶膠形式進入等離子體的軸向通道，在高溫和惰性氣氛中被充分蒸發、原子化、電離和激發，發射出所含元素的特徵譜線。根據特徵譜線的存在與否，鑒別樣品中是否含有某種元素(定性分析);根據特徵譜線強度確定樣品中相應元素的含量(定量分析)。
2.2 電感耦合等離子體原子發射光譜法測定中存在的干擾 [2]
電感耦合等離子體原子發射光譜法測定中通常存在的干擾大致可分為兩類:
一類是光譜干擾,主要包括連續背景和譜線重疊干擾;另一類是非光譜干擾,主要包括化學干擾,電離干擾,物理干擾等。因此,除應選擇適宜的分析譜線外,干擾的消除和校正也是必須的,通常可採用空白校正,稀釋校正,內標校正,背景扣除校正,干擾系數校正,標准加入等方法。
2.3 對儀器的一般要求
等離子發射光譜法光譜儀由樣品引入系統,電感耦合等離子(ICP)光源,色散系統,檢測系統等構成,並配有計算機控制及數據處理系統,冷卻系統,氣體控制系統等。樣品引入系統 按樣品狀態不同可以分為液體或固體進樣,通常採用液體進樣方式。樣品引入系統由兩個主要部分組成:樣品提升部分和霧化部分。樣品提升部分一般為蠕動泵,也可使用自提升霧化器。要求蠕動泵轉速穩定,泵管彈性良好,使樣品溶液勻速地泵入,廢液順暢地排出。霧化部分包括霧化器和霧化室。樣品以泵入方式或自提升方式進入霧化器後,在載氣作用下形成小霧滴並進入霧化室,大霧滴碰到霧化室壁後被排除,只有小霧滴可進入等離子體源。要求霧化器霧化效率高,霧化穩定性高,記憶效應小,耐腐蝕;霧化室應保持穩定的低溫環境,並需經常清洗[3]。常用的溶液型霧化器有同心霧化器,交叉型霧化器等;常見的霧化室有雙通路型和旋流型。實際應用中宜根據樣品基質,待測元素,靈敏度等因素選擇合適的霧化器和霧化室。
電感耦合等離子體光源的"點燃",需具備持續穩定的純氬氣流,炬管,感應圈,高頻發生器,冷卻系統等條件。樣品氣溶膠被引入等離子體源後,在6,000K～10,000K的高溫下,發生去溶劑,蒸發,離解,激發,電離,發射譜線。根據光路採光方向,可分為水平觀察 ICP 源和垂直觀察 ICP 源;雙向觀察ICP。光源可實現垂直/水平雙向觀察。實際應用中宜根據樣品基質,待測元素,波長,靈敏度等因素選擇合適的觀察方式。電感耦合等離子體原子發射光譜的單色器通常採用光柵或棱鏡與光柵的組合,光源發出的復合光經色散系統分解成按波長順序排列的譜線,形成光譜。 電感耦合等離子體原子發射光譜的檢測系統為光電轉換器,它是利用光電效應將不同波長光的輻射能轉化成電信號。常見的光電轉換器有光電倍增管和固態成像系統兩類。固態成像系統是一類以半導體矽片為基材的光敏元件製成的多元陣列集成電路式的焦平面檢測器,如電荷耦合器件(CCD),電荷注入器件(CID)等,具有多譜線同時檢測能力,檢測速度快,動態線性范圍寬,靈敏度高等特點。檢測系統應保持性能穩定,具有良好的靈敏度,解析度和光譜響應范圍。 冷卻和氣體控制系統 冷卻系統包括排風系統和循環水系統,其功能主要是有效地排出儀器內部的熱量。循環水溫度和排風口溫度應控制在儀器要求范圍內。氣體控制系統須穩定正常地運行,氬氣的純度應不小於99.99%。

Ⅲ 為什麼在電感耦合等離子體光源中可消除自吸現象

因為軸心溫度低，且中心進樣的濃度也不太高對等離子體穩定性影響小。

Ⅳ 等離子體光源的特性

等離子體光源是近代光譜分析中應用最為廣泛的光源。等離子體是已被電離的氣體，又被稱作物質的第四態，即固體→液體→氣態→等離子態。與普通氣體不同的是，它有一定的電離度，是電離度在0.1%以上的氣體，是電的導體，通過電流加熱氣體或其他加熱方式獲得高溫。等離子體光源有電感耦合等離子炬(ICP)、直流等離子體噴焰(DCP)、微波感生等離子炬(MIP)和電容耦合等離子炬(CCP)。這些光源都有其各自的特點和局限性，目前對ICP的研究與應用最為普遍。

(1)等離子體放電的一般性質和原理

ICP光源的歷史可以追溯到一百年以前，但作為原子光譜分析方法的光源和原子化裝置實際上始於1961年Reed的研究工作，並於20世紀70年代迅速發展，成為一種新型分析方法。

圖8.3 試樣在不同形狀等離子體中行為比較

a—淚滴狀ICP(無中心通道);b—環狀ICP(有中心通道)

(3)等離子體放電區域的劃分

ICP放電可分為以下幾個區域:

感應區(inction region)：這是等離子體的環形外區。高頻功率主要通過該區域而耦合到等離子體中，是分析物蒸發→原子化→激發→電離所需能量的供給者。

軸向通道(axial channel)：感應區所環繞的區域為軸向通道(或稱分析通道、中心通道)，依其觀測高度(感應線圈以上的距離)可分為預熱區(preheating zone，PHZ)、初輻射區(initial radiation zone，IRZ)及標准分析區(normal analytical zone，NAZ)。預熱區的主要作用是加熱氣體並使溶劑揮發；初輻射區是分析物蒸發和原子化的主要區域；標准分析區是分析物激發、電離和輻射的主要區域，是最合適的觀測區，其位置視分析物及譜線性質而定，並與耦合至等離子體的功率及內氣流量等有關，一般在感應線圈以上10～15mm。

尾焰(tail plume)：在更高的觀測高度，由於中心和周圍區域之間的氣體混合，等離子體的環狀結構消失，形成尾焰。

(4)試樣在等離子體光源中發生的復雜過程及譜線強度

試樣在進入等離子體光源後會經歷蒸發過程、離解或原子化過程、激發過程、電離過程、擴散遷移過程、輻射躍遷過程、自吸收過程，若用溶液氣溶膠進樣，還有霧化過程和溶劑揮發過程。由此可見，分析物在光源中所發生的過程是相當復雜的。對於普通的自由擴散的非封閉型光源(如電弧和火花等)，多數元素的氣態原子平均停留時間約為10^-3s，也就是說，如果每秒有1000個原子進入光源，僅有1個原子在其中停留並參加原子化和激發，而999個原子都白白跑掉了。可見，在這些光源中，蒸氣的利用率是很低的。對於如ICP這樣流動的、非自由擴散型的光源，放電的環狀結構和較高的溫度，使試樣易於導入，並能夠有效蒸發。如以載氣將試樣帶入光源，則氣體流動引起的質量遷移將起主要的作用，不考慮橫向擴散或徑向擴散，試樣粒子在通道中停留的時間將主要取決於中心載氣流的線速度，並與中間的輔助氣流流速也有一定的關系。在ICP放電通道中，小的載氣流量、低的等離子體溫度、高的觀測高度和較大的氣流截面，將使試樣粒子在通道中的停留時間增大。有人曾經估計，試樣在Ar-ICP放電加熱區中的停留時間約為在N₂O-乙炔火焰中停留時間的4000倍(採用的等離子體溫度為8250 K，火焰溫度為2800 K)。一般情況下，試樣在加熱區停留時間平均為4.3ms，而在觀測區停留時間平均為1.5ms。在ICP放電高溫下，這樣長的停留時間對於分析物試樣微粒的蒸發一般是足夠的，即使對於那些難熔、難揮發的化合物，亦可實現完全揮發。

當試樣中某種元素的原子受激發後，由基態E₀激發到E_i，再由高激發態E_i躍遷回較低的激發態E_j時，其譜線強度I_ij與下列因素有關：①與單位體積內被激發到E_i能級的原子數N_i成正比；②與N_i個受激原子向低能級E_j躍遷時的概率成正比；③與能級i、j的能量差值E_i-E_j(即hν_ij)成正比。

譜線有其自然寬度，相當於兩能級寬度之和，存在變寬效應。譜線的形狀取決於發射體的原子結構，等離子體的電子密度、溫度以及組分。在等離子體中，譜線變寬主要有兩種：多普勒(Doppler)變寬，由發射體的隨機性熱運動所致；斯塔克(Stark)變寬，不均勻強電場及高速運動中的高密度帶電離子和電子引起的譜線變寬。

元素的原子在激發態時能輻射出何種波長的光，那麼它在基態或低激發態時也能吸收何種波長的光。在以前的電弧或火花光源中，高靈敏線在濃度很高時出現譜線中央部分強度減弱的現象，好像分成了兩條譜線，這種現象稱為譜線的「自蝕」，輕微者稱為「自吸」。在電弧中，包圍著弧焰四周的是溫度較低的原子蒸氣雲層，所以當弧焰中心發射出的輻射通過這一段路程時，將有部分被蒸氣雲層中溫度較低的同類原子所吸收。ICP光源中，由於中心通道的存在，自吸現象不嚴重。

Ⅳ 電感耦合等離子體激發源

激發源即ICP光源，是發射光譜儀中一個極為重要的組成部分，它的作用是給分析試樣提供蒸發、原子化或離子化激發的能量，使其發射出特徵譜線。電感耦合等離子體裝置由射頻發生器和等離子體炬管組成。

圖8.4 ICP光譜儀結構圖

8.2.1.1 射頻發生器

射頻發生器(也稱高頻發生器)是ICP的高頻供電裝置，為等離子體炬的點燃和維持輸送穩定的高頻電能。

ICP使用的射頻發生器主要有兩種基本類型：一種是自激式發生器；另一種是它激式發生器，也稱晶體控制型發生器。射頻發生器實際上是一個由並聯的電容器和電感器組成的，在所需頻率下產生交變電流的振盪器。為使ICP放電穩定，振盪必須是無阻尼的。振盪迴路由於電阻的存在，每次振盪總要消耗能量，如果不及時補充能量，振盪將發生衰減。因此，必須不斷地、合拍地給振盪迴路補充其內阻所消耗的能量。例如，當試樣引入等離子體後，其電學特性自然會發生變化，因而也將改變負載線圈的有效阻抗，即阻抗失配。如不對電路重新調諧，等離子體勢必不穩定，甚至熄滅。

ICP發生器的頻率通常有兩種：27.12MHz和40.68MHz(分別是石英振盪器頻率6.78MHz的4倍或6倍)，頻率穩定性一般優於0.01%。二者之間沒有顯著的分析性能上的差別。由於40.68MHz的設計一般在較低功率條件下運行，可能長時間使用時有優勢。保持等離子體所需的功率，一般為0.75～2.0kW，大多數ICP-MS射頻發生器系統的工作功率為1.0～1.8kW，可調，輸出功率穩定性小於或等於0.1%。

近年來，RF發生器的基本原理與最初設計沒有區別，僅結構變小很多。現在一些新的發生器用固態電子元件取代了當初的真空功率放大管，所以體積明顯減小，穩定性和可靠性明顯改善，更適合於常規分析。

8.2.1.2 等離子體炬管

ICP炬管是置於負載線圈內的一組石英管，通常由3個石英同心管組成，即外管、中間管和試樣注入管。炬管的主要作用是使等離子體放電與負載線圈隔開，以防止短路，並藉助通入的外氣流帶走等離子體的熱量和限制等離子體的大小。炬管的材料現在多用石英。試樣注入管一般採用石英、氧化鋁、鉑金以及藍寶石等製成。當電源接通、高頻電流通過線圈時，在石英管內產生交變磁場。等離子體炬管裝置示意圖如圖8.5所示。

圖8.5 等離子體炬管裝置示意圖

炬管有內管固定型和內管可拆卸式兩種。可拆卸炬管的優點是比較靈活，可以隨時拆卸內管進行清洗，或更換其他類型的內管，例如更換耐HF的氧化鋁管。不過，可拆卸式炬管的麻煩之處在於重新安裝，其同心度很重要。不過，現在有的炬管設計了定位銷式炬管結構，拆卸方便、定位準確。

等離子體方法的分析性能，如靈敏度、檢出限、抗干擾程度等都與氣流，尤其是與載氣流量、正向功率和觀測高度密切相關。等離子體點火的難易、穩定性和抗過熱性都與氣體速度有關，而氣體速度又取決於炬管的尺寸和同心度，所以實際操作中等離子體的最佳化很重要。

8.2.1.3 電感耦合炬管的氣路系統

ICP-AES分析中，通入炬管的工作氣體多為氬氣，特殊情況下可用氮氣或氮氬混合氣。其主要作用是提供維持等離子體、冷卻、保護炬管和輸送試樣等。工作氣體分為以下三種。

(1)等離子體氣

早期曾稱為冷卻氣，這是等離子體的外氣流，由切線方向引入外管，用於維持和穩定等離子體，並防止等離子體的高溫將石英管燒壞，因等離子體在最大渦流流動區溫度可達9000～10000 K。這種熱絕緣是通過一種旋渦穩定技術實現的，它使用一種氬氣流以切線方向引入，並螺旋上升，把等離子體沿徑向「箍縮」在石英管的中心，並使外石英管的內壁冷卻，等離子體即穩定在靠近同心管的出口端。其流量視炬管結構而定，一般為10～20L/min，約占工作氣體總流量的80%～90%。

(2)輔助氣

早期稱為等離子氣，這是等離子體的中層氣流，通入中心管與中層管之間，主要用於「點燃」等離子體(有時亦稱「點燃氣」)及保護中心注入管。其流量一般為1L/min左右。有時在試樣導入後即可截止，由於中氣流等離子體的生成和穩定並非完全必要，故這種「三氣流」系統的術語，不適合於不用中氣流的「雙氣流」系統。因此，改用「等離子氣」代替原來的「冷卻氣」，「輔助氣」代替原來的「等離子氣」，使之同時適用於雙氣流及三氣流系統。輔助氣還可以「托起」等離子炬，通過調節該氣流達到改變觀察高度的目的。

(3)載氣

亦稱為注入氣或霧化氣，這是等離子體的內管氣流，由霧化器進入，將樣品溶液轉化為粒徑只有1～10μm的氣溶膠。載氣將樣品氣溶膠引入ICP，並對霧化器、霧化室、中心管起到清洗作用。其流量大小對等離子體中觀測區譜線強度的影響最大，流量一般為0.5～1.5L/min。在採用孔徑較小的噴射管時，這樣的流速足以產生高速的噴射氣流穿透等離子體的中心，形成一個較冷的通路，該通路被稱為中心通道或軸向通道。

以上三種氣體均使用惰性氣體氬氣，因為氬氣具有以下特性：①容易純化，一般要求使用99.99%以上的氬氣；②性質穩定，不與試樣組分形成難解離的穩定化合物，也不會因為分子解離而損失能量；③有良好的激發性能；④本身的光譜簡單。要求由裝有二級減壓閥的氣瓶供氣，採用精密控制氣流的質量流控制器和流量計。

8.2.1.4 冷卻和氣體控制系統

冷卻系統包括排風系統和循環水系統，其功能主要是有效地排出儀器內部的熱量。循環水溫度和排風口溫度應控制在儀器要求范圍內。氣體控制系統須穩定正常地運行，氬氣的純度應不小於99.99%。

Ⅵ 激光剝蝕電感耦合等離子體質譜法

一、內容概述

固體微區分析技術由於具有測定樣品中元素三維變化的能力，在分析科學的發展中一直是處於令人關注的前沿領域。自從Gray等結合等離子體質譜和激光剝蝕進樣方法，於1985 年開創了激光剝蝕電感耦合等離子體（LA-ICP-MS：laser ablation inctively coupled plasma mass spectrometry）聯用的固體原位微區分析新技術以來，LA-ICP-MS以其原位（insitu）、實時（realtime）、快速、高靈敏度、較好的空間解析度、多元素同時測定並可提供同位素比值信息等多項技術優勢，得到了廣泛的認同，特別是在岩石礦物等樣品的微區痕量元素分析中有很大的優勢。20 多年以來，LA-ICP-MS不僅在地球科學微區技術發展中發揮了重要作用，而且延伸到材料科學、環境科學、海洋科學、生命科學等領域。近年來，高分辨質譜儀技術的普遍應用，激光器從紅外向紫外、從納秒向飛秒的性能方面的不斷提升，剝蝕、進樣技術的不斷改進，使元素檢出限、分析精密度等得到很大改善；多接收質譜儀技術的應用使LA-ICP-MS不僅可以進行U-Pb同位素定年，而且可以進行Lu-Hf等同位素體系的分析，分析精密度可與TIMS技術媲美。目前，分餾效應、基體效應和校正研究、包裹體等特殊樣品分析、標准物質研製、綠色整體分析技術研究是該技術的熱點問題。

二、應用范圍及應用實例

（一）納秒和飛秒激光器基體效應研究

Pécheyran等（2007）通過紅外飛秒激光與紫外266 納秒激光剝蝕 NIST 600 進行檢測線定值的結果表明，紅外飛秒激光剝蝕時，質譜的檢測限比納秒激光剝蝕時降低了一個數量級。同時，他們通過不同激光剝蝕測定了NIST 612中的41個元素，飛秒激光剝蝕的41個元素的分餾因子都接近1，顯示可忽略分餾效應；而納秒激光對一些元素如Pb、Au、In、Cs 等明顯大於1，存在嚴重的分餾效應。

（二）同位素測年

Poitrasson等（2000）用LA-ICPMS、EMPA、BSE及Raman光譜分析研究了3 個地區3種不同類型熱液改造獨居石顆粒的年齡及幾個不同程度的改造過程。研究包括陰離子交代、隨化學組成的變化而產生的由單斜到六方的結構轉換、Th的流失、獨居石的溶解與凝聚以及在溶解過程中其他礦物的交代等的綠泥石化、絹雲母化和雲英岩化改造過程。Ballard等（2001）用SHRIMP驗證了ELA-ICP-MS測得含礦長英質斑岩的U-Pb同位素年齡結果，結合分析已有的Re-Os及Ar-Ar結果，認為智利北部丘基卡爾塔（Chuquicamata）斑岩銅礦經歷了兩期火成事件和兩期熱液活動。

（三）包裹體研究

Halter 等（2002）通過剝蝕整個熔融包裹體及其周圍的主岩，將分析信號去卷積後分為主岩和包裹體的信號，量化 ICP-MS相對靈敏度系數的變化和包裹體相對剝蝕速率的變化，使未暴露和化學成分復雜的包裹體分析變得可行。但該方法需要內標來測定主礦和熔融包裹體混合激光剝蝕信號的相對貢獻。Zajacz 等在2007 年優化了該方法，避免了使用已知內標元素，而是通過共沉澱礦物相測量熔融包裹體，並模擬下降的一條液相線估計正確的整體組分（correct bulk composition）以得到量化結果。由於許多岩石受岩漿混合的影響，共沉澱主要在含有大量包裹體的共生紋理中（textures）鞏固（confirmed），所以該方法在礦物相共沉澱中應用非常成功。由於準分子193納米激光短波長、均化的激光束非常適合單個石英流體包裹體剝蝕，其與四極桿 ICP-MS 結合是目前最有前途的分析流體包裹體的技術。

三、資料來源

Ballard J R，Palin J M，Williams I S et al.2001.Two ages of porphyry intrusion resolved for the super⁃giant Chuquicamata copper deposit of northern Chile by ELA⁃ICP⁃MS and SHRIMP.Geology，29（5）：383～386

Halter W E，Pettke T，Heinrich C A et al.2002.Major to trace element analysis of melt inclusions by laser⁃ablation ICP⁃MS：methods of quantification.Chemical Geology，183（1/4）：63～86

Pécheyran C，Cany S，Chabassier P et al.2007.High repetition rate and low energy femtosecond laser ablation coupled to ICPMS detection：a new analytical approach for trace element determination in solid samples.Journal of Physics：Conference Series，59（1）：112～117

Poitrasson F，Chenery S，Shepherd T J.2000.Electron microprobe and LA⁃ICP⁃MS study of monazite hydrothermal alteration：Implications for U⁃Th⁃Pb geochronology and nuclear ceramics.Geochimica et Cosmochimica Acta，2000，64：3283～3297

Zajacz Z，Halter W.2007.LA⁃ICPMS analyses of silicate melt inclusions in co⁃precipitated minerals：Quantification，data analysis and miner⁃al/melt partitioning.Geochimica et Cosmochimica Acta，71（4）：1021～1040

Ⅶ 電感耦合等離子體光譜儀是什麼原理，在檢測時有什麼優點

原理介紹：高頻振盪器發生的高頻電流，經過耦合系統連接在位於等離子體發生管上端，銅制內部用水冷卻的管狀線圈上。石英製成的等離子體發生管內有三個同軸氬氣流經通道。冷卻氣(Ar)通過外部及中間的通道，環繞等離子體起穩定等離子體炬及冷卻石英管壁，防止管壁受熱熔化的作用。工作氣體(Ar)則由中部的石英管道引入，開始工作時啟動高壓放電裝置讓工作氣體發生電離，被電離的氣體經過環繞石英管頂部的高頻感應圈時，線圈產生的巨大熱能和交變磁場，使電離氣體的電子、離子和處於基態的氖原子發生反復猛烈的碰撞，各種粒子的高速運動，導致氣體完全電離形成一個類似線圈狀的等離子體炬區面，此處溫度高達6000一10000攝氏度。樣品經處理製成溶液後，由超霧化裝置變成全溶膠由底部導入管內，經軸心的石英管從噴咀噴入等離子體炬內。樣品氣溶膠進入等離子體焰時，絕大部分立即分解成激發態的原子、離子狀態。當這些激發態的粒子回收到穩定的基態時要放出一定的能量(表現為一定波長的光譜)，測定每種元素特有的譜線和強度，和標准溶液相比，就可以知道樣品中所含元素的種類和含量。
應用優點：
一．材料類
1．難熔合金的元素含量分析；
2、高純有色金屬及其合金的元素微量分析；
3、金屬材料、電源材料、貴金屬研究和生產用微量元素分析
4．電子、通訊材料及其包裝材料中的有害物質元素含量檢測
5．醫療器械及其包裝材料中的有害物質及化學成分
二．環境與安全類
1．食具容器、包裝材料的成分分析及有害物質分析
2．應用於食品衛生重金屬含量測試和食品檢測分析
3．水（污水、飲用水、礦泉水等）中的：有害重金屬及陰離子等
4．玩具、兒童用品及其包裝材料中的：有害重金屬（銻、砷、鋇、鉻、鎘、鉛、汞等）
5．肥料中的重金屬及微量元素：砷、汞、鉛、隔、鉻、錳、鐵等
6．化妝品、洗滌劑及其包裝材料中的有害成分：砷、汞、鉛等
三．醫葯食品類
1．中西葯及其包裝材料中的有害重金屬、微量元素、有效成分等
2. 生物組織中的重金屬、微量元素及有機成分
3．保健品及生物製品中的有害成分、營養成分等
4．食品及其包裝材料中的有害物質、重金屬、微量元素及其它營養成分
四、地質、礦產、農業、大學
1、地質、土壤的元素含量檢測；用於地質、土壤的研究所、環境監測站；
2、礦物質的定性和定量分析；
3、農業研究所或大學用的材料元素含量檢測、地質土壤元素檢測、環境樣品檢測分析；
五、任何高純物質檢測
1、氯鹼化工的高純燒鹼及其原材料的微量元素分析；
2、高純葯品中間體

Ⅷ 電感耦合等離子體光源優點有哪些

電感耦合等離子體光源的優點有以下方面：
1)檢出限低：許多元素可達到1ug/L的檢出限
2)測量的動態范圍寬：5-6個數量級
3)准確度好
4)基體效應小：ICP是一種具有6000-7000K的高溫激發光源，樣品又經過化學處理，分析用的標准系列很易於配製成與樣品溶液在酸度、基體成分、總鹽度等各種性質十分相似的溶液。同時，光源能量密度高，特殊的激發環境——通道效應和激發機理，使ICP光源具有基體效應小的突出優點。
5)精密度高：RSD~0.5%
6)曝光時間短：一般只需10-30秒

Ⅸ 直流等離子體與電感耦合等離子體光源的區別

直流等離子體光源：內電極放電，因存在電極材料損耗問題，壽命短。
電感耦合等離子體 ：外電極放電，無電極材料損耗，壽命長。