ebsd樣品需要把樹脂去掉

1. 什麼是界面反應拋光

界面反應拋光是根據兩相之間接觸表面的特性及表面上的各種化學物質種類、含量、存在狀態及性質，且在一定的條件下發生的各種化學反應。

2. ebsd反極圖上的最大值和最小值是什麼意思

1、EBSD測定的織構可以用多種形式表達出來，如極圖、反極圖、ODF等（見圖5）。同X-ray衍射測織構相比，EBSD具有能測微區織構、選區織構並將晶粒形貌與晶粒取向直接對應起來的優點。另外，X射線測織構是通過測定衍射強度後反推出晶粒取向情況，計算精確度受選用的計算模型、各種參數設置的影響，一般測出的織構與實際情況偏差15%以上。而EBSD通過測定各晶粒的絕對取向後進行統計來測定織構，可以認為EBSD是目前測定織構最准確的手段。當然與X-ray比，EBSD存在制樣麻煩等缺點。2、用EBSD同時測定兩個相的晶體學取向時，可以確定兩個相之間的晶體學關系。為了確定兩相間的晶體學關系，一般需要測定30處以上兩相各自的晶體學取向。並將所有測定結果同時投影在同一極射赤面投影圖上進行統計，才能確立兩相間的晶體學關系[3]。與透射電鏡和X-ray相比，採用EBSD測定兩相間晶體學取向關系具有顯著的優越性。用於EBSD測試的樣品表面平整、均勻，可以方便地找到30個以上兩相共存的位置。同時晶粒取向可以用軟體自動計算。而透射電鏡由於樣品薄區小的關系，難於在同一樣品上找到30個以上兩相共存位置。另外，其晶粒取向需手動計算。X-ray一般由於沒有成像裝置，難於准確將X-ray定位在所測定的位置上。3、另外，當第二相與基體間的慣習面、孿生面、滑移面等在樣品表面留下跡線，尤其在兩個以上晶粒表面留下跡線時，可以採用EBSD確定這些面的晶體學指數。

3. ebsd測鍛態織構系統坐標與樣品坐標怎麼放置

油罐車：又稱流動加油車、電腦稅控加油車、引油槽車、裝油車、運油車、拉油車、石油運輸車、食用油運輸車，主要用作石油的衍生品（汽油、柴油、原油、潤滑油及煤焦油等油品）的運輸和儲藏。根據不同的用途和使用環境有多種加油或運油功能，具有吸油、泵油，多種油分裝、分放等功能。運油車專用部分由罐體、取力器、傳動軸、齒輪油泵、管網系統等部件組成。 管網系統由油泵、三通四位球閥、雙向球閥、濾網、管道組成。

4. 掃面電鏡樣品需要腐蝕么

作斷口是不能腐蝕的，否則會改變斷口形貌，現在你要做形貌，多數需要腐蝕，否則晶粒之間區分不開，腐蝕之後晶粒形貌清晰。當然，如果你只是分析金屬與陶瓷的界面情況，是否腐蝕就要看具體情況了。另外，建議你用背散射看看，效果也許更好。

5. 請問粉末樣品怎麼進行鑲樣並進行相成分分析

我看到別人是這樣做的。粉末與環氧樹脂混合，硬化後磨製成金相式樣，再進行導電處理。

6. EBSD分析（electron backscatter diffraction）是指

EBSD即電子背散射衍射。EBSD的原理始於20世紀50年代，技術問世於80年代。EBSD是掃描電子顯微鏡（SEM）的一個標准分析附件，但大大拓寬了掃描電子顯微鏡進行微觀分析的功能。它可以與SEM的其他功能（包括EDS等配件）結合起來，原位成像、成分分析、大樣品分析、粗糙表面成像等，克服了傳統分析方法中的一些缺陷。

EBSD系統主要由背散射探測器、高靈敏度CCD數字照相機、圖像採集卡、計算機分析軟體及資料庫等組成（圖7-2）。探測器用於獲取樣品中激發出的背散射電子信號；高靈敏度CCD數字照相機獲得electron backscat-ter pattern圖像後，經過圖像採集卡輸送到計算機系統。計算機自動對於採集的圖像進行識別和標定，同時與標准資料庫進行比對，進而獲得晶體顆粒的結晶學信息。

EBSD系統把顯微構造與晶格結構（或結晶學）直接聯系起來；測定優勢定向顆粒群中單個晶體顆粒的定向；標定晶體顆粒的基本幾何屬性參數；獲取超微尺度上晶體界面屬性在內的晶體空間要素的大量信息等。目前EBSD已經成為一種非常成熟的技術，並在材料科學、地質學、冶金學、考古學等領域得到了廣泛的應用。尤其是在材料科學中，已經成為物質材料顯微組構、構造標定和研究的一種常規手段。

EBSD技術的發展和應用，也為岩石超微構造分析與研究拓展了新的空間。自90年代中期EBSD技術引入變形岩石顯微構造與結構分析研究中以來，不少學者對於具有特殊性（即非導電性和晶體結構非對稱性）的岩石樣品開展了初步研究工作。在岩石顯微構造研究中，通過EBSD可以快速獲取海量數據，使得研究極細粒物質（微米-納米級）的定向組構成為可能，確定二軸晶礦物的結晶學組構（如角閃石）更簡便；也為獲得快速准確地確定金屬礦物和不透明礦物及等軸晶系均質體礦物（如石榴子石）的結晶學組構提供了技術支撐；更可以開展岩石顯微構造、礦物塑性變形機制；礦物相鑒定、礦物相變、晶粒尺寸測量、超微域內的應變估算、礦物晶格優選方位（LPO）與地震波各向異性的關系研究等；並通過岩石微觀和超微觀構造，反演和示蹤地球動力學過程的信息等等。

總之，EBSD技術的廣泛應用，必將帶來岩石顯微構造分析與研究的新突破，也將成為未來一個時期岩石變形機制與岩石圈流變學研究取得飛速發展的催化劑。

EBSD制樣：EBSD分析對於樣品表面的拋光度要求較高，有不同的製作方法，包括機械拋光、電解拋光、離子束拋光和聚焦離子束（FIB，focused ion beam）切割。下面簡單介紹最常使用的機械拋光方法。

機械拋光過程的主要目的，在於將樣品制備初期階段磨製過程中在樣品表面形成的幾個納米厚的變形層去除，以使得背散射電子信號有效地反映晶體內部結構特徵。樣品制備包括兩個階段，即磨製階段和拋光階段：

（1）磨片：將擬觀察分析的樣品製作成普通光片或光薄片，最好用較細的金剛砂磨製薄片；（2）拋光：依次使用9μm、6μm、3μm金剛石溶液、1μm alpha氧化鋁或0.3μmalpha氧化鋁和0.05μm或0.02μm硅膠/氧化鋁拋光液或拋光膏進行拋光。

對於不導電的非金屬樣品，還需要在樣品表面噴碳或鍍金，以便於觀察和獲取更好的信號。值得注意的是，由於背散射電子獲取的信號是樣品表面10nm以內的晶體結構信息，樣品噴鍍的厚度需要嚴格掌握。

7. 樣品表面有應力不可以做ebsd嗎

1、EBSD測定的織構可以用多種形式表達出來，如極圖、反極圖、ODF等（見圖5）。同X-ray衍射測織構相比，EBSD具有能測微區織構、選區織構並將晶粒形貌與晶粒取向直接對應起來的優點。另外，X射線測織構是通過測定衍射強度後反推出晶粒取向情況，計算精確度受選用的計算模型、各種參數設置的影響，一般測出的織構與實際情況偏差15%以上。而EBSD通過測定各晶粒的絕對取向後進行統計來測定織構，可以認為EBSD是目前測定織構最准確的手段。當然與X-ray比，EBSD存在制樣麻煩等缺點。

2、用EBSD同時測定兩個相的晶體學取向時，可以確定兩個相之間的晶體學關系。為了確定兩相間的晶體學關系，一般需要測定30處以上兩相各自的晶體學取向。並將所有測定結果同時投影在同一極射赤面投影圖上進行統計，才能確立兩相間的晶體學關系[3]。與透射電鏡和X-ray 相比，採用EBSD測定兩相間晶體學取向關系具有顯著的優越性。用於EBSD測試的樣品表面平整、均勻，可以方便地找到30個以上兩相共存的位置。同時晶粒取向可以用自動計算。而透射電鏡由於樣品薄區小的關系，難於在同一樣品上找到30個以上兩相共存位置。另外，其晶粒取向需手動計算。X-ray一般由於沒有成像裝置，難於准確將X-ray定位在所測定的位置上。

3、另外，當第二相與基體間的慣習面、孿生面、滑移面等在樣品表面留下跡線，尤其在兩個以上晶粒表面留下跡線時，可以採用EBSD確定這些面的晶體學指數。

8. 有哪位做過變形銅的EBSD請各位指教！

變形態的就是都不是很好做。如果樣品是小塊或者片狀看端面的話，建議可以利用類似酸噴的裝置，將電解液噴到樣品表面。採用上下式（樣品在上，另一極板在下）多做幾組，。如果是片狀看錶面的話，可以採用甲板式（兩極板中間夾樣品），利用千分尺檢測表面，大概拋掉3個U左右就可以。大量做樣就會有經驗。

9. EBSD快速掃描的尺寸范圍

樣品台移動EBSD掃描模式可以做大范圍織構檢測，具體尺寸受電鏡樣品台本身可移動的范圍。雖然EBSD可以通過樣品台移動掃描模式或者電子束掃描模式多圖掃描後拼圖來低倍檢測較大范圍的織構，但自己嘗試過多次，效果不是很好。EBSD優點是做微區的晶體織構分析，宏觀織構測定優選XRD（比EBSD准確，制樣簡單，費用低）。
總體來說由於做EBSD樣品需要傾斜70°，樣品過大過重，高倍長時間掃描時容易發生飄逸，所以EBSD樣品小點好。
上述為個人觀點，希望對你有幫助。

10. EBSD樣品如何制備，需要注意什麼

方法：
有固體溶劑壓片和直接使用粉末壓片。
注意：
使用固體溶劑壓片是其溶劑的性質不能與待
測物質相近，然後就是溶劑的使用量的問題。直接壓片時晶粒要細小，試樣取向無規則。