html中半透膜圈

❶ 如何將干涉條紋湧出改成陷入或相反,原理是什麼

用干涉法檢查來光學元件的表面時自，每一暗條紋的出現表明被測表面與標准面的偏差增加半個波長，也可測量長度的微小改變，不能測量光波波長，一般用條紋間距測光的波長。

因為邁克耳遜干涉儀用的是等傾干涉，中央干涉級最大，鏡子像光程差減小的方向移動的時候，光程差減小，所以原來大幹涉級的地方被小干涉級代替了，所以中央是最大幹涉級，被邊上小於他的干涉級替代，所以邊上的條紋陷入中心了。

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在光的干涉現象發生時，常伴隨也明暗相間的條紋產生，如牛頓環、楊氏雙縫干涉及等原干涉等，都會伴隨干涉條紋的產生。

干涉現象及干涉條紋的出現對於光學測量微小變形具有重要意義，同時也廣泛應用於生活中，如半透膜，攝像機鏡頭等。

光波是以正弦波的形式在介質中傳播的，由於光波傳播的獨立性和線性疊加性，兩束或兩束以上同頻光波相遇時，會根據相位的不同出現光強增強或減弱的現象。

❷ 急求邁克爾遜干涉儀原理

邁克爾復遜干涉儀的結構和工作制原理：

G2是一面鍍上半透半反膜，M1、M2為平面反射鏡，M1是固定的，M2和精密絲相連，使其可前後移動，最小讀數為10-4mm，可估計到10-5mm,M1和M2後各有幾個小螺絲可調節其方位。

當M2和M1』嚴格平行時，M2移動,表現為等傾干涉的圓環形條紋不斷從中心「吐出」或向中心「消失」。兩平面鏡之間的「空氣間隙」距離增大時，中心就會「吐出」一個個條紋；

反之則「吞進」一個個條紋。M2和M1』不嚴格平行時，則表現為等厚干涉條紋，M2移動時，條紋不斷移過視場中某一標記位置，M2平移距離d與條紋移動數N的關系滿足。

拓展資料

干涉儀

根據光的干涉原理製成的一種儀器。將來自一個光源的兩個光束完全分並，各自經過不同的光程，然後再經過合並，可顯出干涉條紋。在光譜學中，應用精確的邁克爾遜干涉儀或法布里-珀羅干涉儀，可以准確而詳細地測定譜線的波長及其精細結構。